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diglib / Diplomarbeiten / Temperature dependent bias-stress measurements on organic thin film transistors
  • Autor
    • Obermüller, Thomas
  • TitelTemperature dependent bias-stress measurements on organic thin film transistors
  • Datei
  • Erscheinungsjahr2010
  • BeschreibungII, 89 Bl.
  • BeschreibungIll., zahlr. graph. Darst.
  • ZugriffsrechteAuch außerhalb des TU-Netzes nutzbar

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