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  • Autor
    • Spanring, Georg
  • TitelStructural analysis and determination of charge carrier properties of semiconductor devices by measurements of optical beam induced currents created by near infrared radiation
  • Datei
  • Erscheinungsjahr2014
  • Beschreibung80 Bl.
  • Beschreibungzahlr. Ill. und graph. Darst.
  • ZugriffsrechteAuch außerhalb des TU-Netzes nutzbar