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Robust multivariate process control of multi-way data with applications in semiconductor manufacturing
Autor
Scheibelhofer, Peter
Titel
Robust multivariate process control of multi-way data with applications in semiconductor manufacturing
Datei
[1.67 MB]
Erscheinungsjahr
2015
Beschreibung
XVIII, 116 S.
Beschreibung
zahlr. graph. Darst.
Zugriffsrechte