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diglib / Diplomarbeiten / MOSFET aging measurements and hot-electron degradation models
  • Autor
    • Schiffmann, Alexander
  • TitelMOSFET aging measurements and hot-electron degradation models
  • Datei
  • Beschreibung149 Seiten
  • BeschreibungDiagramme, Pläne
  • ZugriffsrechteAuch außerhalb des TU-Netzes nutzbar

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