- Autor
- Kraxner, Andrea
- TitelInvestigation of carrier transport in silicon p-n junction devices using scanning electron microscopy with electron beam induced current
- Datei
- Erscheinungsjahr2016
- Beschreibungxii, 99 Blätter
- BeschreibungIllustrationen, Diagramme
- Zugriffsrechte
[44.74 MB]