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  • Autor
    • Kleinbichler, Manuel
  • TitelInvestigation of Al diffusion in thin polycrystalline Cu films by SIMS analysis and FEM simulations
  • Datei
  • Beschreibung103 Blätter
  • BeschreibungIllustrationen, Diagramme
  • ZugriffsrechteAuch außerhalb des TU-Netzes nutzbar