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Investigation and drift minimization of electrical parameters caused by mechanical stress in high performance analog semiconductor devices
Autor
List, Paulus
Titel
Investigation and drift minimization of electrical parameters caused by mechanical stress in high performance analog semiconductor devices
Datei
[677.63 KB]
Beschreibung
xx, 84 Seiten
Beschreibung
Diagramme, Pläne
Zugriffsrechte
[677.63 KB]