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  • Autor
    • Prohinig, Jennifer
  • TitelInfluence of Pt-H defects on Si p+/n diode characteristics
  • Datei
  • Erscheinungsjahr2018
  • Beschreibungxiv, 55 Seiten
  • BeschreibungIllustrationen, Diagramme
  • ZugriffsrechteAuch außerhalb des TU-Netzes nutzbar