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  • Autor
    • Schuscha, Bernd
  • TitelEvaluation of electro-thermal influenced reliability effects in microelectronics
  • Datei
  • Beschreibungxi, 60 Blätter
  • BeschreibungIllustrationen, Diagramme
  • ZugriffsrechteAuch außerhalb des TU-Netzes nutzbar