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Ellipsometric porosimetry set-up and study of thin films in the nanometer regime
Autor
Holzer, Clarissa Silke
Titel
Ellipsometric porosimetry set-up and study of thin films in the nanometer regime
Datei
[3.46 MB]
Beschreibung
VII, 104 Blätter
Beschreibung
Illustrationen, Diagramme
Zugriffsrechte