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Electron beam induced current investigations of proton implanted silicon and power semiconductor devices
Autor
Kirnstötter, Stefan
Titel
Electron beam induced current investigations of proton implanted silicon and power semiconductor devices
Datei
[29.56 MB]
Beschreibung
xxii, 173 Seiten
Beschreibung
Illustrationen, Diagramme
ISBN
Halbgewebe
Zugriffsrechte