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Cryogenic electrically detected magnetic resonance of defects at the SiC-SiO2 interface
Autor
Meszaros, Robert
Titel
Cryogenic electrically detected magnetic resonance of defects at the SiC-SiO2 interface
Datei
[2.45 MB]
Erscheinungsjahr
2016
Beschreibung
VIII, 59 Blätter
Beschreibung
Illustrationen, Diagramme
Zugriffsrechte