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diglib / Dissertationen / Combining grazing incidence X-ray diffraction with computational methods for organic semiconductor structural analysis
  • Autor
    • Hofer, Sebastian
  • TitelCombining grazing incidence X-ray diffraction with computational methods for organic semiconductor structural analysis
  • Datei
  • Beschreibung152 Seiten
  • BeschreibungIllustrationen, Diagramme
  • ZugriffsrechteAuch außerhalb des TU-Netzes nutzbar

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