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diglib / Diplomarbeiten / Characterization of point defects in semiconductors using electrically detected magnetic resonance
  • Autor
    • Gruber, Gernot
  • TitelCharacterization of point defects in semiconductors using electrically detected magnetic resonance
  • Datei
  • Erscheinungsjahr2012
  • BeschreibungXI, 77 S.
  • BeschreibungIll., graph. Darst.
  • ZugriffsrechteAuch außerhalb des TU-Netzes nutzbar

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