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Capacitance- and current-voltage characterization of metal-insulator-semiconductor structures with topography
Autor
Novak, Lara Marie
Titel
Capacitance- and current-voltage characterization of metal-insulator-semiconductor structures with topography
Datei
[7.45 MB]
Beschreibung
v, 107 Seiten
Beschreibung
Illustrationen, Diagramme
Zugriffsrechte