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  • Autor
    • Sleik, Roland
  • TitelSystem level reliability testing under application stress conditions
  • Volltext
  • Erscheinungsjahr2018
  • BeschreibungXII, 111 Seiten
  • BeschreibungIllustrationen, Diagramme
  • ZugriffsrechteAuch auzserhalb des TU-Netzes nutzbar