Hauptmenü
  • Autor
    • Spanring, Georg
  • TitelStructural analysis and determination of charge carrier properties of semiconductor devices by measurements of optical beam induced currents created by near infrared radiation
  • Volltext
  • Erscheinungsjahr2014
  • Beschreibung80 Bl.
  • Beschreibungzahlr. Ill. und graph. Darst.
  • ZugriffsrechteAuch auzserhalb des TU-Netzes nutzbar