- Autor
- Seidl, Regina
- TitelSpecimen preparation for transmission electron microscopy by focused ion beam
- Zusatz z. Titelrefinement of post-treatment using focused low energy argon ion milling
- Datei
- Erscheinungsjahr2016
- Beschreibungv, 75, C Blätter
- BeschreibungIllustrationen, Diagramme
- Zugriffsrechte
[5.58 MB]