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  • Autor
    • Seidl, Regina
  • TitelSpecimen preparation for transmission electron microscopy by focused ion beam
  • Zusatz z. Titelrefinement of post-treatment using focused low energy argon ion milling
  • Volltext
  • Erscheinungsjahr2016
  • Beschreibungv, 75, C Blätter
  • BeschreibungIllustrationen, Diagramme
  • ZugriffsrechteAuch auzserhalb des TU-Netzes nutzbar