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  • Autor
    • Kraxner, Andrea
  • TitelInvestigation of carrier transport in silicon p-n junction devices using scanning electron microscopy with electron beam induced current
  • Datei
  • Erscheinungsjahr2016
  • Beschreibungxii, 99 Blätter
  • BeschreibungIllustrationen, Diagramme
  • ZugriffsrechteAuch außerhalb des TU-Netzes nutzbar