Hauptmenü
  • Autor
    • Rattenberger, Johannes
  • TitelImproved understanding of scattering processes and their meaning for quantitative image interpretation in advanced scanning electron microscopy
  • Volltext
  • Persistent Identifier
  • Erscheinungsjahr2010
  • Beschreibung153 Bl.
  • BeschreibungIll., zahlr. graph. Darst., Kt.
  • ZugriffsrechteAuch auzserhalb des TU-Netzes nutzbar