Hauptmenü
  • Autor
    • Kalt, Andreas Christian
  • TitelEinfluss von Deep-Trench-Isolation auf Strom-Sense-Konzepte in lateralen DMOS-Transistoren
  • Volltext
  • Erscheinungsjahr2011
  • BeschreibungXVIII, 88 S.
  • BeschreibungIll., graph. Darst., Kt.
  • ZugriffsrechteAuch auzserhalb des TU-Netzes nutzbar