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  • Autor
    • Meszaros, Robert
  • TitelCryogenic electrically detected magnetic resonance of defects at the SiC-SiO2 interface
  • Volltext
  • Erscheinungsjahr2016
  • BeschreibungVIII, 59 Blätter
  • BeschreibungIllustrationen, Diagramme
  • ZugriffsrechteAuch auzserhalb des TU-Netzes nutzbar