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diglib / Diplomarbeiten / Advanced electrical characterization of NBTI induced gate oxide defects
  • Autor
    • Pobegen, Gregor
  • TitelAdvanced electrical characterization of NBTI induced gate oxide defects
  • Datei
  • Erscheinungsjahr2010
  • Beschreibung105 Bl.
  • BeschreibungIll., zahlr. graph. Darst.
  • ZugriffsrechteAuch außerhalb des TU-Netzes nutzbar

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